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Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications

Journalartikel

Schnelle Fakten

  • Interne Autorenschaft

  • Weitere Publizierende

    Master of Arts Alexander Walsemann, Alexander Stanitzki, Dietmar Tutsch

  • Veröffentlichung

    • IOP Publishing (Bristol) 2024
  • Publikationszweck

  • Organisationseinheit

  • Fachgebiete

    • Mikro- und Nanoelektronik
  • Forschungsstrukturen

    • Learning Chips Lab (LCL)
  • Forschungsfeld

    • Mikro- und Nanosysteme

Zitat

A. Walsemann, M. Karagounis, A. Stanitzki, and D. Tutsch, “Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications,” Journal of Instrumentation, vol. 19, pp. C02012–C02012, 2024.

Referenzen

DOI 10.1088/1748-0221/19/02/C02012

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