Jump to

65nm technology for HEP: status et perspective

Conference paper

Fast facts

Internal authorship
Prof. Dr. Michael Karagounis
Further publishers
P. Valerio, M. Barbero, D. Fougeron, F. Gensolen, S. Godiot, M. Menouni, P. Pangaud, A. Rozanov, A. Wang, M. Bomben, G. Calderini, F. Crescioli, J.-F. Genat, O. Le Dortz, G. Marchiori, Daniel Dzahini, F.E. Rarbi, R. Gaglione, L. Gonella, T. Hemperek, F. Huegging, T. Kishishita, H. Krueger, P. Rymaszewski, N. Wermes, F. Ciciriello, F. Corsi, F. Licciulli, C. Marzocca, G. De Robertis, F. Loddo, C. Tamma, A. Andreazza, V. Liberali, S. Shojaii, A. Stabile, M. Bagatin, D. Bisello, S. Mattiazzo, L. Ding, S. Gerardin, P. Giubilato, A. Neviani, A. Paccagnella, D. Vogrig, J. Wyss, N. Bacchetta, F. De Canio, L. Gaioni, B. Nodari, M. Manghisoni, V. Re, G. Traversi, D. Comotti, L. Ratti, C. Vacchi, R. Beccherle, R. Bellazzini, G. Magazzu, M. Minuti, F. Morsani, F. Palla, L. Fanucci, A. Rizzi, S. Saponara, K. Androsov, G.M. Bilei, M. Menichelli, E. Conti, S. Marconi, D. Passeri, P. Placidi, G. Della Casa, N. Demaria, G. Mazza, A. Rivetti, M.D. da Rocha Rolo, E. Monteil, L. Pacher, D. Gajanana, V. Gromov, N. Hessey, R. Kluit, V. Zivkovic, M. Havranek, Z. Janoska, M. Marcisovsky, G. Neue, V. Kafka, P. Sicho, V. Vrba, I. Vila, M.A. Aguirre, F. Muñoz, F.R. Palomo, D. Abbaneo, J. Christiansen, D. Dannheim, D. Dobos, L. Linssen, H. Pernegger, N. Alipour Tehrani, S. Bell, M.L. Prydderch, S. Thomas, D.C. Christian, G. Deptuch, F. Fahim, J. Hoff, R. Lipton, T. Liu, T. Zimmerman, M. Garcia-Sciveres, D. Gnani, A. Mekkaoui, I. Gorelov, M. Hoeferkamp, S. Seidel, K. Toms, J.N. De Witt, A. Grillo
Publishment
- 2014
Purpose of publication
Research
Subjects
- General electrical engineering
Research fields
- Other field of research

Quote

P. Valerio, M. Barbero, D. Fougeron, F. Gensolen, S. Godiot, M. Menouni, P. Pangaud, A. Rozanov, A. Wang, M. Bomben, G. Calderini, F. Crescioli, J.-F. Genat, O. Le Dortz, G. Marchiori, D. Dzahini, F. E. Rarbi, R. Gaglione, L. Gonella, T. Hemperek, F. Huegging, M. Karagounis, T. Kishishita, H. Krueger, P. Rymaszewski, N. Wermes, F. Ciciriello, F. Corsi, F. Licciulli, C. Marzocca, G. De Robertis, F. Loddo, C. Tamma, A. Andreazza, V. Liberali, S. Shojaii, A. Stabile, M. Bagatin, D. Bisello, S. Mattiazzo, L. Ding, S. Gerardin, P. Giubilato, A. Neviani, A. Paccagnella, D. Vogrig, J. Wyss, N. Bacchetta, F. De Canio, L. Gaioni, B. Nodari, M. Manghisoni, V. Re, G. Traversi, D. Comotti, L. Ratti, C. Vacchi, R. Beccherle, R. Bellazzini, G. Magazzu, M. Minuti, F. Morsani, F. Palla, L. Fanucci, A. Rizzi, S. Saponara, K. Androsov, G. M. Bilei, M. Menichelli, E. Conti, S. Marconi, D. Passeri, P. Placidi, G. Della Casa, N. Demaria, G. Mazza, A. Rivetti, M. D. da Rocha Rolo, E. Monteil, L. Pacher, D. Gajanana, V. Gromov, N. Hessey, R. Kluit, V. Zivkovic, M. Havranek, Z. Janoska, M. Marcisovsky, G. Neue, V. Kafka, P. Sicho, V. Vrba, I. Vila, M. A. Aguirre, F. Muñoz, F. R. Palomo, D. Abbaneo, J. Christiansen, D. Dannheim, D. Dobos, L. Linssen, H. Pernegger, N. Alipour Tehrani, S. Bell, M. L. Prydderch, S. Thomas, D. C. Christian, G. Deptuch, F. Fahim, J. Hoff, R. Lipton, T. Liu, T. Zimmerman, M. Garcia-Sciveres, D. Gnani, A. Mekkaoui, I. Gorelov, M. Hoeferkamp, S. Seidel, K. Toms, J. N. De Witt, and A. Grillo, "65nm technology for HEP: status et perspective," in Proceedings of The 23rd International Workshop on Vertex Detectors, 2014, pp. 43-49.

Content

The development of new experiments such as CLIC and the the foreseen Phase 2 pixel upgrades of ATLAS and CMS have very challenging requirements for the design of hybrid pixel readout chips, both in terms of performances and reliability. To face these challenges, the use of a more downscaled CMOS technology compared to previous projects is necessary. The CERN RD53 collaboration is undertaking a R&D program to evaluate the use of a commercial 65 nm technology and to develop tools and frameworks which will help to design future pixel detectors. This paper gives a short overview of the RD53 collaboration activities and describes some examples of recent developments.