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Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry

Schnelle Fakten

  • Interne Autorenschaft

  • Weitere Publizierende

    • Peter Schulz
  • Veröffentlichung

    • 2019
  • Sammelband

    Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry

  • Organisationseinheit

  • Fachgebiete

    • Informatik allgemein
  • Format

    Konferenzpaper

Zitat

Schulz, Peter & Wolff, Carsten 2019. Cyber Physical Test System - a novel approach in testing for the Embedded Systems Industry. 2019 IEEE AUTOTESTCON, 1–5.

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