Zitat
P. Schulz, N. Sleibi, C. Wolff, and C. Hensen, “Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?,” in 2024 IEEE AUTOTESTCON, 2024, pp. 1–6.
Referenzen
DOI 10.1109/AUTOTESTCON47465.2024.10697501
Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?
Konferenzpaper
Schnelle Fakten
Interne Autorenschaft
Weitere Publizierende
Christian Hensen
Veröffentlichung
- 2024
Publikationszweck
Organisationseinheit
Fachgebiete
- Informatik allgemein
Forschungsfeld
- Intelligente Produktion